半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()
A.可靠性测定试验
B.可靠性鉴定试验
C.可靠性验收实验
D.环境应力筛选试验
正确答案是D
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